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Titelaufnahme

Titel
Variable Angle Spectroscopic Ellipsometry (VASE) on Orgnaic Semiconducting Thin Films / eingereicht von: Lukas Bernhauser
VerfasserBernhauser, Lukas
Betreuer / BetreuerinSariciftci, Niyazi Serdar
Erschienen2014
UmfangVIII, 81, 3 Bl. : Ill., graph. Darst.
HochschulschriftLinz, Univ., Master-Arb., 2014
Anmerkung
Kurzfassung in dt. und engl. Sprache
SpracheEnglisch
DokumenttypMasterarbeit
Schlagwörter (GND)Ellipsometrie / Organischer Halbleiter / Dünne Schicht / Optische Eigenschaft / Temperaturabhängigkeit / In situ
URNurn:nbn:at:at-ubl:1-709 Persistent Identifier (URN)
Zugriffsbeschränkung
 Das Werk ist gemäß den "Hinweisen für BenützerInnen" verfügbar
Dateien
Variable Angle Spectroscopic Ellipsometry (VASE) on Orgnaic Semiconducting Thin Films [11.6 mb]
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Klassifikation